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新しい及びオリジナルの集積回路の破片256K (32K Xの8)静的なRAM CY62256LL-70PXC

メーカー:
製造者
記述:
SRAM -非同期記憶IC 256Kbit平行70 ns 28-PDIP
部門:
フラッシュ・メモリICの破片
価格:
Negotiate
支払方法:
T/T、ウェスタン・ユニオン、Paypal
指定
保管温度:
– 65°Cへの+150°C
電圧をDC入力:
– Vccへの0.5V + 0.5V
出力への出力電流(低い):
20 mA
静電気放電の電圧:
> 2001V
現在のLatch-up:
> 200 mA
高速:
55 ns
電圧範囲:
4.5V – 5.5V
温度範囲:
産業:– 40°Cへの85°C
ハイライト:

chip in electronics

,

small scale integrated circuits

導入

CY62256

256K (32K Xの8)静的なRAM

特徴

•高速

—55 ns

•温度較差

—コマーシャル:0°Cへの70°C

—産業:– 40°Cへの85°C

—自動車:– 40°Cへの125°C

•電圧範囲

—4.5V – 5.5V

•低いアクティブな電源および予備発電

•セリウムおよびOEの特徴との容易なメモリ拡張

•TTL互換性がある入出力

•選択解除された場合自動パワー

•最適速度/力のためのCMOS

•Pbなしおよび非Pbなしの標準的な28ピン狭いところSOICの28ピンTSOP-1で利用できる、

28ピン逆TSOP-1および28ピンすくいのパッケージ

機能の記述

CY62256は8ビットにつき32K単語として組織される高性能CMOSの静的なRAMである。容易なメモリ拡張は活動的で低い破片によって可能にする(セリウムを)提供され、活動的で低い出力は可能になる(OE)および三国から成った運転者。この装置は選択解除されたとき99.9%パワー消費量を減らす自動パワー特徴を備えている。

活動的な低速は書くために信号(私達)を制御する記憶の執筆/読込み操作を可能にする。セリウムおよび私達が入るとき低い両方ともの8つのデータ入出力ピン(I/O0によるI/O7)のデータ住所ピン(A0によるA14)で住所現在によって演説する記憶場所に書かれているある。装置を読むことは装置を選び、出力、セリウムおよびOEの活動的な低速を可能にすることによって私達は不活性または高く残るが、達成される。このような状況の下で、住所ピンの情報によって演説する位置の内容は8つのデータ入出力ピンにある。入出力ピンはhigh-impedance状態に破片が選ばれなければ、出力可能になり、書く可能になる(私達)高い残る。

論理のブロック ダイヤグラム

Pin構成

最高の評価

(上で損なわれる有用な生命がかもしれない。ユーザーの指針のため、テストされない。)

保管温度................................. – 65°Cへの+150°C

周囲温度との

+125°Cへの力応用............................................. – 55°C

潜在性をひく供給電圧

(Pin 28からPin 14) .............................................. – 0.5Vへの+7V

出力に適用されるDC電圧

VCCへの高Z状態.................................... – 0.5V + 0.5V

DC入力電圧を................................ – VCCへの0.5V + 0.5V

出力への出力電流(低く) .............................20 mA

静電気放電の電圧..........................................> 2001V

(MIL-STD-883の方法3015ごとに)

現在のLatch-up ....................................................> 200 mA

動作範囲

範囲 周囲温度(TA) VCC
コマーシャル 0°Cへの+70°C 5V ± 10%
産業 – 40°Cへの+85°C 5V ± 10%
自動車 – 40°Cへの+125°C 5V ± 10%

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