Holtの集積回路の破片SN74HC273N 8 Dのタイプ双安定回路
chip in electronics
,integrated components
Holtの集積回路の破片SN74HC273N 8 Dのタイプ双安定回路
SN74HC273N
広作動の電圧範囲2ボルトから6ボルト
出力は10のLSTTLの負荷に運転できる
低い電力の消費、40-µA最高のICC
典型的なtpd = 15 ns
±4 mAは5ボルトでドライブを出力した
最高1つのµAの低い入力電流
記述/発注情報
『HC74装置はDタイプ2独立者を含んでいる
肯定的端誘発されたフリップフロップ。事前調整の低レベル（前に）
または明らかに（CLR）セットを入れるか、または出力を再調節する、
他の入力のレベルにもかかわらず。
前におよびCLRが不活性（最高）である時、
データ（d）のデータは設定時間の条件の満たを入れた
出力に移される
時計（CLK）の脈拍の肯定的行く端。
誘発の起こる電圧レベルに時間を記録しなさい
そして直接CLKの上昇時間と関連していない。
把握時間間隔に従がって、データ
Dで入力は変えることができる
出力のレベルに影響を与えることなし。
作動の自由空気温度較差上の絶対最高評価（通知がなければ） ‡
供給電圧の範囲、VCC – 0.5ボルトから7ボルト
入れられたクランプ流れ、IIK （VI < 0="" or="" VI=""> VCC） （ノート1） ±20 mAを見なさい
出力クランプ流れ、IOK （VO < 0="" or="" VO=""> VCC） （ノート1） ±20 mAを見なさい
連続的な出力電流、IO （VO = 0からVCC） ±25 mA
VCCまたはGND ±50 mAを通した連続的な流れ
パッケージの熱インピーダンス、θJA （ノート2）を見なさい:
Dのパッケージ86……………………………。°C/W
DBのパッケージ96…………………………… °C/W Nのパッケージ80……………………………。°C/W NSのパッケージ76………。 ……………。°C/W PWのパッケージ113 °C/W
保管温度の範囲、Tstg…………………。– 65°Cへの150°C
変数測定情報
注:
A. CLは調査およびテスト据え付け品キャパシタンスを含んでいる。
波形間のB. Phase関係は任意に選ばれた。すべての入力パルスは次の特徴を持っている発電機によって供給される:PRRの≤ 1つのMHz、ZO = 50 Ω、tr = 6 ns、tf = 6 ns。
C.クロックの入力のために、fmaxは入力使用率が50%のとき測定される。
D.出力は測定ごとの1つの入力転移と一つずつ測定される。E.のtPLHおよびtPHLはtpdと同じである。
発注情報
| TA | パッケージの† | 注文可能の部品番号 | 上部の印 | |
| 0°Cへの70°C | SOIC D |
管 | SN74LS06D | LS06 |
| テープおよび巻き枠 | SN74LS06DR | |||
| SOP – NS | テープおよび巻き枠 | SN74LS06NSR | 74LS06 | |
| SSOP – DB | テープおよび巻き枠 | SN74LS06DBR | LS06 | |
| PDIP –N | 管 | SN74LS06N | SN74LS06N | |
| – 55°Cへの125°C | CDIP –J | 管 | SN54LS06J | SN54LS06J |
| 管 | SN54LS06J | SN54LS06J | ||
| LCCC – FK | 管 | SNJ54LS06FK | SNJ54LS06FK |
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