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堀力Mosfet IC IRF1404PBFは超低いオン抵抗を進めた

メーカー:
製造者
記述:
N-Channel 40 V 202A (Tc) 333W (Tc) Through Hole TO-220AB
部門:
電子ICの破片
価格:
Negotiate
支払方法:
T/T、ウェスタン・ユニオン、Paypal
指定
Features:
Advanced Process Technology
Features2:
Ultra Low On-Resistance
Features3:
Dynamic dv/dt Rating
Features4:
175°C Operating Temperature
Features5:
Fast Switching
ハイライト:

npn smd transistor

,

silicon power transistors

導入

堀力Mosfet IC IRF1404PBFは超低いオン抵抗を進めた

記述

国際的な整流器からの第7世代別HEXFETÆ力のMOSFETsはケイ素区域ごとの極端に低いオン抵抗を達成するのに高度の加工の技巧を利用する。HEXFET力のMOSFETsが有名である高耐久化された装置設計および速い切り替え速度と結合されるこの利点は自動車を含むいろいろ適用の使用に非常に有効な、信頼できる装置を、デザイナーに与える。

TO-220パッケージはおよそ50ワットへの電力損失のレベルのすべての自動車商業産業適用のために一般に好まれる。TO-220の低い熱抵抗そして低いパッケージの費用は企業中の広い受諾に貢献する。

か。高度の加工技術か。

超低いオン抵抗か。

動的dv/dtの評価か。175°C

実用温度か。

速い切換えか。

評価される十分になだれか。

修飾される自動車(Q101)か。

無鉛

反復的ななだれのカーブ、図15、16のノート:(詳細については、www.irf.comでAN-1005を見なさい)

1. なだれの失敗の仮定:全く熱現象および失敗はTjmax以上温度にずっと起こる。これはあらゆる部分のタイプのために認可される。

2. なだれの安全な操作は長いasTjmaxが超過しないので許可される。

3. 図12a、12bで示されている回路および波形に基づく次同等化。

4. PD (ave) =単一のなだれの脈拍ごとの平均出力の消滅。

5. BV =評価される絶縁破壊電圧(なだれの間の電圧増加のための1.3の要因記述)。

6. Iav =正当ななだれの流れ。

7. ∆T =接合部温度の正当な上昇、Tjmaxを超過しないため(図15、16の25°Cとして仮定した)。tav =なだれの平均時間。なだれ= tavのD =使用率·f ZthJC (Dのtav)は=一時的な熱抵抗、図を見る11)

変数 タイプ 最高。 単位
RθJC 接続点に場合 -- 0.45 °C/W
RθCS 場合に流し、平らな、グリースを塗られた表面 0.50 ---
RθJA 接続点に包囲された -- 62

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